Tektronix TDS8000

Das digitale Abtastoszilloskop TDS8000 bietet die größte Bandbreite an integrierten Mess- und Wellenformverarbeitungsfunktionen aller Ultrahochbandbreiten-Oszilloskope. Mit hervorragender Messwiederholgenauigkeit, außergewöhnlicher vertikaler Auflösung sowie schnellen Erfassungs- und Aktualisierungsraten der Wellenform ist das TDS8000 ein leistungsstarkes Messgerät für Halbleitertests, TDR-Charakterisierung von Leiterplatten, IC-Gehäusen und Kabeln sowie für schnelle digitale Kommunikationsanwendungen. Die hochmoderne Zeitbasis der 8000 Series bietet äquivalente Zeitablenkgeschwindigkeiten von 0,5 ps/div bis 5 ms/div mit Speicherlängen von 20 bis 4000 Punkten und einem Abtastintervall von 10 Femtosekunden (0,01 ps). Zusätzlich können die Zeitbasen der Sampling-Oszilloskope der 8000 Series auf eine 10 MHz-Referenz verriegelt werden, was eine höhere Langzeitstabilität ermöglicht. Diese Funktion erlaubt außerdem, mehrere TDS8000 mit anderen Prüfgeräten und/oder dem Prüfling zu synchronisieren. Das TDS8000 bietet zwei Vergrößerungsfenster, wobei Abschnitte der Hauptspur mit höherer Auflösung erneut erfasst werden, um Details genauer zu untersuchen. Das TDS8000 verfügt über die höchste Abtastrate unter den Sampling-Oszilloskopen. Seine Mehrprozessorarchitektur mit dedizierten Digital Signal Processors (DSP) pro Kanal garantiert die höchsten Wellenform-Erfassungsraten unabhängig von der Anzahl der erfassten Kanäle oder der durchgeführten Wellenformverarbeitung. Merkmale DC bis 50 GHz Bandbreite Außergewöhnlicher Trigger-Jitter und hohe Stabilität der horizontalen Zeitbasis Modulare Architektur Erfassung von bis zu acht Kanälen Hohe Auflösung und Messwiederholgenauigkeit Umfassendes, präzises automatisches Messsystem Intuitive Benutzeroberfläche Großes Display (10,4 in.) Microsoft Windows-basierte grafische Benutzeroberfläche DIGITAL-SAMPLING-OSZILLOSKOP