Zur vollautomatischen Ermittlung der wichtigsten Kenngrößen an Halbleitern, Ergebnisdarstellung wahlweise auf Grafik-Display, Wertetabelle oder in Listenformat. Eingebaute mathematische Funktionen wie Grundrechenarten, EXP, LN, Wurzel, Leistungsberechnung, Differenzberechnung, Sonderfunktionen wie Interpolation, Zoom, Marker u.v.m. 4 eingebaute Meß- und Auswerteeinheiten, programmierbar als Spannungsquelle mit Strommessung oder Stromquelle mit Spannungsmessung erlauben z. B. die Bestimmung von h-Parametern in allen Transistor-Grundschaltungen, ohne daß am Meßaufbau etwas geändert werden müßte. Selbstverständlich sind alle Funktionen auch über die IEEE-488-Schnittstelle steuerbar, für serienweise Bauteilprüfungen kann das System um HP 4085 M Schaltmatrix und einen entsprechenden Controller erweitert werden.